Pavyzdinis žemėlapių sudarymas

Remdamiesi kliento pateiktu fiziniu pavyzdžiu (net jei tai yra susidėvėjusi ar sulūžusi naudota dalis), siūlome viso spektro paslaugas nuo fizinės struktūros atvirkštinės inžinerijos iki medžiagų lygio fizikinės ir cheminės charakteristikos. Naudodami puslaidininkinės klasės didelio tikslumo tikrinimo įrangą, mes tiksliai įvertiname sudėtingas 3D geometrines struktūras, dangos / substrato sąsajos savybes ir medžiagos fizinius parametrus, užtikrindami, kad atvirkštinės inžinerijos gaminys atitinka arba viršija OEM standartus fizinio tinkamumo, procesų suderinamumo ir eksploatavimo trukmės (Form-Fit-Function Replacement) atžvilgiu.

Ką mes matuojame (techniniai rezultatai):

• Matmenų ir geometrinės nuokrypos:Naudodami didelio tikslumo koordinačių matavimo mašinas (CMM) ir optinius 3D skaitytuvus, atliekame pilno dydžio taškinių debesų modeliavimą ir sudėtingų ertmių struktūrų bei montavimo/lokacijos angų rekonstrukciją, pasiekdami mikronų tikslumą.
• Paviršiaus mikromorfologija ir lygumas:Baltos šviesos interferometrų ir optinių profilometrų naudojimas nanometrų skalės paviršiaus šiurkštumui (Ra) ir didelio ploto lygumui įvertinti, atitinkantis plokštelių tvarkymo ir kameros sandarinimo reikalavimus.
• Edge mikro savybės:Didelio padidinimo briaunų R spindulių ir nuožulnų mikroprofilių atvaizdavimas, siekiant optimizuoti dangos kilimo morfologiją ir išvengti įtempių koncentracijos aštriuose kampuose, dėl kurių aukštoje temperatūroje gali atsirasti laminatas.
• Grafito substrato ir terminio atitikimo analizė:Didelio grynumo grafito substrato tankio, grūdelių dydžio ir šiluminio plėtimosi koeficiento (CTE) įvertinimas, siekiant užtikrinti pagrindo ir CVD dangos terminio įtempio atitikimą.
• Dangos skerspjūvio ir sąsajos sujungimo kokybė:Neardomoji XRF ir metalografinė skerspjūvio SEM analizė, skirta išmatuoti absoliutų storį, radialinį CVD dangos vienodumą ir sąsajos įsiskverbimo gylį.
• Fazinė struktūra ir mikrokristalų analizė:CVD SiC kubinės fazės (β-SiC) grynumo XRD įvertinimas; CVD TaC cheminės stechiometrijos ir kristalinės struktūros charakteristikų kokybinis įvertinimas.

Realūs atvejai ir privalumai klientams (patirtis):

12 colių puslaidininkių ėsdinimo komponento klientas:OEM tiekimas nutrauktas; buvo tik viena dėvėta dalis. Atlikdami CMM atvirkštinį modeliavimą + SEM dangos skerspjūvio analizę, per 2 mėnesius užbaigėme pakaitinių dalių kūrimą ir bandymą su įrankiu be jokių originalių brėžinių, todėl pasiekėme 100 % montavimo tinkamumą. Galiausiai komponentų įsigijimo ciklas buvo sumažintas nuo pradinio 6 mėnesių importo termino iki 2 mėnesių, vieneto pirkimo kaina sumažėjo 42%, o šis modelis buvo stabiliai tiekiamas daugiau nei 30 partijų.

Silicio karbido (SiC) danga ant SEM dangos skerspjūvio

DUK

Pradėkite savo išskirtinę paslaugą dabar