Technika ir sprendimai

Technika ir sprendimai

01 CVD SiC, TaC ir kietojo SiC veikimo ribos epitaksijos ir ėsdinimo procesuose
05

01 CVD SiC, TaC ir kietojo SiC veikimo ribos epitaksijos ir ėsdinimo procesuose

Pasirinkus tinkamą CVD SiC, TaC dangą arba kietą SiC, epitaksijos / ėsdinimo linijose tiesiogiai nustatomas dalelių lygis ir komponento naudojimo laikas. Šiame straipsnyje pateikiamos aiškios pasirinkimo ribos pagal temperatūrą, atmosferą ir procesą, suderintos su pagrindiniais įrangos keitimo sprendimais ir pagrindine metrika, kad būtų lengviau priimti greitus sprendimus ir sumažinti riziką.
Peržiūrėti daugiau
Vandeniu valdoma lazerinė technologija: tikslus mikroskylių apdirbimas SiC substratams
06

Vandeniu valdoma lazerinė technologija: tikslus mikroskylių apdirbimas SiC substratams

Sužinokite, kaip „VeTek“ vandeniu valdoma lazerinė technologija sukuria vienodas Φ0,15 mm kiaurymes 2 mm SiC substratuose be kūgiškumo, minimalaus HAZ ir didelio našumo puslaidininkiams.
Peržiūrėti daugiau
VETEK-AMAT tuščiaviduris kėlimo kaiščio sprendimas: didelio grynumo grafito substratas su CVD SiC danga
07

VETEK-AMAT tuščiaviduris kėlimo kaiščio sprendimas: didelio grynumo grafito substratas su CVD SiC danga

Sudėtingiausia techninė puslaidininkinės įrangos tuščiavidurių kėlimo kaiščių problema yra ne išorinio paviršiaus danga, o stabilios ir vienodos tuščiavidurės konstrukcijos vidinės sienelės CVD dangos pasiekimas. Nuo vidinės sienelės dangos vienodumo kontrolės iki vidinės kiaurymės švaros užtikrinimo – kiekvienas proceso etapas tiesiogiai veikia plokštelių išeigą. Šiame straipsnyje analizuojami pagrindiniai iššūkiai, susiję su tuščiavidurių kėlimo kaiščių vidinės sienos dangomis ir pagrindiniais techniniais būdais.
Peržiūrėti daugiau
X
Naudojame slapukus siekdami pasiūlyti geresnę naršymo patirtį, analizuoti svetainės srautą ir suasmeninti turinį. Naudodamiesi šia svetaine sutinkate su mūsų slapukų naudojimu. Privatumo politika
AtmestiPriimti